DIN 50453-1:2023-08

Testing of materials for semiconductor technology - Determination of etch rates of etching mixtures - Part 1: Silicium monocrystals, gravimetric method.

NORMA vydána dne 1.8.2023

Německy -
PDF - okamžité stažení (1176.80 CZK)

Německy -

Tištěné (1505.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN 50453-1:2023-08
Datum vydání normy: 1.8.2023
Počet stran: 9
Přibližná hmotnost: 27 g (0.06 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN 50453-1:2023-08 :

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung der Ätzraten von Ätzmischungen - Teil 1: Silicium-Einkristalle, Gravimetrisches Verfahren.