DIN 50450-2:2026-03

Testing of materials for semiconductor technology - Determination of impurities in carrier gases and dopant gases - Part 2: Determination of Oxygen impurities in Nitrogen, Argon, Helium, Neon and Hydrogen using a galvanic cell.

NORMA vydána dne 1.3.2026

Německy -
PDF - okamžité stažení (1176.80 CZK)

Německy -

Tištěné (1505.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: DIN 50450-2:2026-03
Datum vydání normy: 1.3.2026
Počet stran: 9
Přibližná hmotnost: 27 g (0.06 liber)
Země: Německá technická norma
Kategorie: Technické normy DIN

Anotace textu normy DIN 50450-2:2026-03 :

Prüfung von Materialien für die Halbleitertechnologie - Bestimmung von Verunreinigungen in Träger- und Dotiergasen - Teil 2: Bestimmung der Sauerstoffverunreinigung in Stickstoff, Argon, Helium, Neon und Wasserstoff mittels einer galvanischen Messzelle.