Návody na zkušební metody dynamického odporu v sepnutém stavu pro součástky výkonových měničů založených na GaN HEMT. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
NORMA vydána dne 1.10.2022
Designation standards: ČSN EN IEC 63373
Classification mark: 358766
Catalog number: 514958
Publication date standards: 1.10.2022
The number of pages: 24
Approximate weight : 72 g (0.16 lbs)
Country: Czech technical standard
Kategorie: Technické normy ČSN
Obecně je zkoušení dynamického elektrického odporu v sepnutém stavu měřítkem jevů zachycování náboje ve výkonových tranzistorech GaN. Tato norma poskytuje návod pro zkoušení dynamického odporu v sepnutém stavu laterálních výkonových tranzistorů GaN. Zkušební metody lze použít pro následující případy: a) diskrétní výkonové součástky GaN v obohaceném a ochuzeném režimu [3]; b) GaN v integrovaných výkonových řešeních; c) výše uvedené na úrovni desky nebo pouzdra. Předepsané zkušební metody lze použít pro stanovení charakteristik součástek, výrobní zkoušky, hodnocení spolehlivosti a posouzení aplikací GaN součástek pro výkonové měniče. Tato norma se nezabývá příslušnými mechanismy dynamického elektrického odporu v sepnutém stavu a jeho symbolické reprezentace pro specifikace výrobků