Návody na zkušební metody dynamického odporu v sepnutém stavu pro součástky výkonových měničů založených na GaN HEMT. (Norma přebírající anglický originál, vlastní text je součástí výtisku).
NORMA vydána dne 1.10.2022
Označení normy: ČSN EN IEC 63373
Třídící znak: 358766
Katalogové číslo: 514958
Datum vydání normy: 1.10.2022
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Česká technická norma
Kategorie: Technické normy ČSN
Obecně je zkoušení dynamického elektrického odporu v sepnutém stavu měřítkem jevů zachycování náboje ve výkonových tranzistorech GaN. Tato norma poskytuje návod pro zkoušení dynamického odporu v sepnutém stavu laterálních výkonových tranzistorů GaN. Zkušební metody lze použít pro následující případy:
a) diskrétní výkonové součástky GaN v obohaceném a ochuzeném režimu [3];
b) GaN v integrovaných výkonových řešeních;
c) výše uvedené na úrovni desky nebo pouzdra.
Předepsané zkušební metody lze použít pro stanovení charakteristik součástek, výrobní zkoušky, hodnocení spolehlivosti a posouzení aplikací GaN součástek pro výkonové měniče. Tato norma se nezabývá příslušnými mechanismy dynamického elektrického odporu v sepnutém stavu a jeho symbolické reprezentace pro specifikace výrobků