BS ISO 25498:2010

Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope.

NORMA vydána dne 30.6.2010

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (7366.60 CZK)

Anglicky -

Tištěné (7366.60 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS ISO 25498:2010
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.6.2010
Počet stran: 40
Přibližná hmotnost: 120 g (0.26 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS