BS ISO 23812:2009

Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth calibration for silicon using multiple delta-layer reference materials.

NORMA vydána dne 31.5.2009

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (6538.50 CZK)

Anglicky -

Tištěné (6538.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS ISO 23812:2009
Datum vydání normy: 31.5.2009
Počet stran: 30
Přibližná hmotnost: 90 g (0.20 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS

Anotace textu normy BS ISO 23812:2009 :

ISBN: 978 0 580 55765 1 Status: Confirmed