BS ISO 20263:2017

Microbeam analysis. Analytical electron microscopy. Method for the determination of interface position in the cross-sectional image of the layered materials.

NORMA vydána dne 4.1.2018

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (8821.20 CZK)

Anglicky -

Tištěné (8821.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS ISO 20263:2017
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 4.1.2018
Počet stran: 54
Přibližná hmotnost: 162 g (0.36 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS