BS ISO 17470:2014

Microbeam analysis. Electron probe microanalysis. Guidelines for qualitative point analysis by wavelength dispersive X-ray spectrometry.

NORMA vydána dne 31.1.2014

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (4351.40 CZK)

Anglicky -

Tištěné (4351.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS ISO 17470:2014
Datum vydání normy: 31.1.2014
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS

Anotace textu normy BS ISO 17470:2014 :

ISBN: 978 0 580 84121 7 Status: Revision Underway