
Microbeam analysis. Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors.
NORMA vydána dne 19.12.2002
Označení normy: BS ISO 15632:2002
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 19.12.2002
Počet stran: 16
Přibližná hmotnost: 48 g (0.11 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS