BS ISO 14706:2014

Surface chemical analysis. Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy.

NORMA vydána dne 31.7.2014

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (7703.00 CZK)

Anglicky -

Tištěné (7703.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS ISO 14706:2014
Datum vydání normy: 31.7.2014
Počet stran: 36
Přibližná hmotnost: 108 g (0.24 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS

Anotace textu normy BS ISO 14706:2014 :

ISBN: 978 0 580 82725 9 Status: Under Review