BS ISO 14701:2018-TC

Tracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness.

NORMA vydána dne 27.2.2020

Anglicky -
Elektronické PDF (9233.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS ISO 14701:2018-TC
Datum vydání normy: 27.2.2020
Počet stran: 54
Přibližná hmotnost: 162 g (0.36 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS

Anotace textu normy BS ISO 14701:2018-TC :

ISBN: 978 0 539 11820 9 Status: Under Review