BS ISO 14701:2018

Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness.

NORMA vydána dne 5.11.2018

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (6570.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS ISO 14701:2018
Datum vydání normy: 5.11.2018
Počet stran: 26
Přibližná hmotnost: 78 g (0.17 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS

Anotace textu normy BS ISO 14701:2018 :

ISBN: 978 0 580 51949 9 Status: Under Review