BS ISO 14606:2000

Surface chemical analysis. Sputter depth profiling. Optimization using layered systems as reference materials.

NORMA vydána dne 15.1.2001

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (6334.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS ISO 14606:2000
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.1.2001
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS