BS ISO 14237:2010

Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials.

NORMA vydána dne 31.8.2010

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (6384.80 CZK)

Anglicky -

Tištěné (6384.80 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS ISO 14237:2010
Datum vydání normy: 31.8.2010
Počet stran: 30
Přibližná hmotnost: 90 g (0.20 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS

Anotace textu normy BS ISO 14237:2010 :

ISBN: 978 0 580 57402 3 Status: Confirmed