BS ISO 14237:2000

Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials.

NORMA vydána dne 15.4.2000

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (6570.00 CZK)

Anglicky -

Tištěné (6570.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS ISO 14237:2000
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 15.4.2000
Počet stran: 32
Přibližná hmotnost: 96 g (0.21 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS