BS IEC 63275-1:2022

Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors. Test method for bias temperature instability.

NORMA vydána dne 5.10.2022

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (4688.00 CZK)

Anglicky -

Tištěné (4688.00 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS IEC 63275-1:2022
Datum vydání normy: 5.10.2022
Počet stran: 16
Přibližná hmotnost: 48 g (0.11 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS

Anotace textu normy BS IEC 63275-1:2022 :

ISBN: 978 0 539 12126 1 Status: Definitive