BS IEC 63068-2:2019

Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Test method for defects using optical inspection.

NORMA vydána dne 8.2.2019

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (6551.60 CZK)

Anglicky -

Tištěné (6551.60 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS IEC 63068-2:2019
Datum vydání normy: 8.2.2019
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS

Anotace textu normy BS IEC 63068-2:2019 :

ISBN: 978 0 580 51374 9 Status: Definitive