
Integrated circuits. Three dimensional integrated circuits. Model and measurement conditions of through-silicon via.
NORMA vydána dne 24.1.2019
Označení normy: BS IEC 63011-3:2018
Datum vydání normy: 24.1.2019
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 96279 0 Status: Definitive