
Semiconductor devices. Flexible and stretchable semiconductor devices. Bending test method for conductive thin films on flexible substrates.
NORMA vydána dne 4.5.2018
Označení normy: BS IEC 62951-1:2017
Datum vydání normy: 4.5.2018
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 89312 4 Status: Definitive