BS IEC 62880-1:2017

Semiconductor devices. Stress migration test standard. Copper stress migration test standard.

NORMA vydána dne 21.7.2020

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (6551.60 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS IEC 62880-1:2017
Datum vydání normy: 21.7.2020
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS

Anotace textu normy BS IEC 62880-1:2017 :

ISBN: 978 0 580 85808 6 Status: Definitive