
Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans. Concept of mission profile.
NORMA vydána dne 23.5.2023
Označení normy: BS EN IEC 63287-2:2023
Datum vydání normy: 23.5.2023
Počet stran: 22
Přibližná hmotnost: 66 g (0.15 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
ISBN: 978 0 539 15664 5 Status: Definitive