BS EN IEC 60749-41:2020

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices.

NORMA vydána dne 9.9.2020

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (6512.60 CZK)

Anglicky -

Tištěné (6512.60 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS EN IEC 60749-41:2020
Datum vydání normy: 9.9.2020
Počet stran: 26
Přibližná hmotnost: 78 g (0.17 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS

Anotace textu normy BS EN IEC 60749-41:2020 :

ISBN: 978 0 580 96287 5 Status: Definitive