BS EN 62418:2010

Semiconductor devices. Metallization stress void test.

NORMA vydána dne 31.8.2010

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (4705.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS EN 62418:2010
Datum vydání normy: 31.8.2010
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS

Anotace textu normy BS EN 62418:2010 :

ISBN: 978 0 580 62610 4 Status: Definitive