BS EN 62374:2007

Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.

NORMA vydána dne 31.10.2008

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (6576.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS EN 62374:2007
Datum vydání normy: 31.10.2008
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS

Anotace textu normy BS EN 62374:2007 :

ISBN: 978 0 580 54048 6 Status: Under Review