BS EN 62374-1:2010

Semiconductor devices. Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers.

NORMA vydána dne 30.6.2011

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (4705.90 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS EN 62374-1:2010
Datum vydání normy: 30.6.2011
Počet stran: 20
Přibližná hmotnost: 60 g (0.13 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS

Anotace textu normy BS EN 62374-1:2010 :

ISBN: 978 0 580 75206 3 Status: Definitive