Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods. Guidelines for IC reliability qualification plans.
NORMA vydána dne 22.9.2017
Označení normy: BS EN 60749-43:2017
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 22.9.2017
Počet stran: 44
Přibližná hmotnost: 132 g (0.29 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS