
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination.
NORMA vydána dne 24.11.2017
Označení normy: BS EN 60749-3:2017
Datum vydání normy: 24.11.2017
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 94893 0 Status: Definitive