Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. External visual examination.
NORMA vydána dne 17.9.2002
Označení normy: BS EN 60749-3:2002
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 17.9.2002
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS