BS EN 60749-29:2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Latch-up test.

NORMA vydána dne 29.6.2004

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (6073.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS EN 60749-29:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 29.6.2004
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS