BS EN 60749-28:2017

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing. Charged device model (CDM). Device level.

NORMA vydána dne 10.7.2017

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (8461.50 CZK)

Anglicky -

Tištěné (8461.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS EN 60749-28:2017
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.7.2017
Počet stran: 50
Přibližná hmotnost: 150 g (0.33 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS