Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Resistance of plastic-encapsulated SMDs to the combined effect of moisture and soldering heat.
NORMA vydána dne 7.7.2003
Označení normy: BS EN 60749-20:2003
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 7.7.2003
Počet stran: 28
Přibližná hmotnost: 84 g (0.19 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS