
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Die shear strength.
NORMA vydána dne 31.10.2010
Označení normy: BS EN 60749-19:2003+A1:2010
Datum vydání normy: 31.10.2010
Počet stran: 10
Přibližná hmotnost: 30 g (0.07 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 68745 7 Status: Definitive