BS EN 60749-14:2003

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Robustness of terminations (lead integrity).

NORMA vydána dne 15.12.2003

Informace o normě:

Označení normy: BS EN 60749-14:2003
Datum vydání normy: 15.12.2003
Počet stran: 18
Přibližná hmotnost: 54 g (0.12 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS