BS CECC 00013:1985

Harmonized system of quality assessment for electronic components: basic specification: scanning electron microscope inspection of semiconductor dice.

NORMA vydána dne 30.8.1985

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (6381.70 CZK)

Anglicky -

Tištěné (6381.70 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: BS CECC 00013:1985
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 30.8.1985
Počet stran: 24
Přibližná hmotnost: 72 g (0.16 liber)
Země: Britská technická norma
Kategorie: Technické normy BS