Test Method for Crystalographic Perfection of Silicon by Preferential Etch Techniques (Withdrawn 1998)
Označení normy: ASTM F47-94
Poznámka: NEPLATNÁ
Počet stran: 11
Přibližná hmotnost: 33 g (0.07 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
ICS Number Code 77.040.30 (Chemical analysis of metals)