ASTM F1892-12

Standard Guide for Ionizing Radiation (Total Dose) Effects Testing of Semiconductor Devices

NORMA vydána dne 1.7.2012

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (2666.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F1892-12
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.7.2012
Počet stran: 41
Přibližná hmotnost: 123 g (0.27 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F1892-12 :

Keywords:
ASIC (application specific integrated circuit), bipolar, cobalt 60 testing, ELDRS (enhanced low dose rate sensitivity), gamma ray tests, ionizing radiation testing, MOS, radiation hardness, semiconductor devices, time dependent effects, total dose testing, X-ray testing, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)