ASTM E1162-11

Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)

NORMA vydána dne 1.11.2011

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1504.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM E1162-11
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.11.2011
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM E1162-11 :

Keywords:
ICS Number Code 71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)