ASTM F980M-96(2003)

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices [Metric]

NORMA vydána dne 10.6.1996

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1767.50 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1767.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F980M-96(2003)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.6.1996
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F980M-96(2003) :

Keywords:
annealing factor, displacement damage, integrated circuits, neutron damage, neutron degradation, rapid annealing, semiconductor devices