ASTM F980M-96

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices [Metric]

NORMA vydána dne 1.1.1996

Anglicky -
Online zabezpečené PDF (1783.20 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1783.20 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F980M-96
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1996
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F980M-96 :

Keywords:
annealing factor, displacement damage, integrated circuits, neutron damage, neutron degradation, rapid annealing, semiconductor devices, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)