ASTM F980-16(2024)

Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices

NORMA vydána dne 1.1.2024

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1487.30 CZK)

Anglicky -

Tištěné (1487.30 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F980-16(2024)
Datum vydání normy: 1.1.2024
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F980-16(2024) :

Keywords:
annealing factor, annealing function, displacement damage, integrated circuits, neutron damage, neutron degradation, photoconducting device, rapid annealing, semiconductor devices,, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)