Standard Guide for Measurement of Rapid Annealing of Neutron-Induced Displacement Damage in Silicon Semiconductor Devices (Includes all amendments And changes 2/2/2017).
NORMA vydána dne 1.12.2010
Označení normy: ASTM F980-10e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.12.2010
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
annealing factor, annealing function, displacement damage, integrated circuits, neutron damage, neutron degradation, photoconducting device, rapid annealing, semiconductor devices ,, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)