ASTM F978-02

Standard Test Method for Characterizing Semiconductor Deep Levels by Transient Capacitance Techniques (Withdrawn 2003)

NORMA vydána dne 10.1.2001

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1870.40 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F978-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.1.2001
Počet stran: 8
Přibližná hmotnost: 24 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F978-02 :

Keywords:
activation energy, deep levels, DLTS, semiconductor silicon, trap density, transient capacitance, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)