Standard Test Method for Determination of Radial Interstitial Oxygen Variation in Silicon Wafers (Withdrawn 2003)
NORMA vydána dne 10.1.2002
Označení normy: ASTM F951-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.1.2002
Počet stran: 5
Přibližná hmotnost: 15 g (0.03 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
infrared transmission, interstitial oxygen, oxygen, radial variation, silicon, uniformity, variation, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)