ASTM F817-83(1990)

Test Method for Characterization of Film Resistor Materials and Processes (Withdrawn 1996)

NORMA vydána dne 1.1.1983

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1870.50 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F817-83(1990)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.1.1983
Počet stran: 16
Přibližná hmotnost: 48 g (0.11 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F817-83(1990) :

Keywords:
Diffusion, Electrical conductors-semiconductors, Film resistors, Linwood least squares test, Microcircuits, Resistance and resistivity (electrical)-semiconductors, Resistors-film, Statistical methods-electronic components/devices, film resistor (thick/thin) materials/processes-characterization, test