ASTM F80-94

Test Method for Crystallographic Perfection of Epitaxial Deposits of Silicon by Etching Techniques (Withdrawn 1998)

Anglicky -
Elektronické PDF (1736.10 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F80-94
Poznámka: NEPLATNÁ
Počet stran: 9
Přibližná hmotnost: 27 g (0.06 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F80-94 :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)