ASTM F775-88

Test Method for Wafer and Slice Flatness by Interferometric (Withdrawn 1991)

Anglicky -
Elektronické PDF (1739.30 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F775-88
Poznámka: NEPLATNÁ
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F775-88 :

Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)