NORMSERVIS s.r.o.

ASTM F769-00

Standard Test Method for Measuring Transistor and Diode Leakage Currents (Withdrawn 2006)

NORMA vydána dne 10.6.2000

Anglicky -
PDF - okamžité stažení (1501.10 CZK)
Anglicky -
Tištěné (1501.10 CZK)

Informace o normě:

Označení normy: ASTM F769-00
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.6.2000
Počet stran: 3
Přibližná hmotnost: 9 g (0.02 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM

Anotace textu normy ASTM F769-00 :

Keywords:
diode, junction leakage, leakage current, radiation testing, total radiation dose, transistor, ICS Number Code 31.080.10 (Diodes), 31.080.30 (Transistors)