Standard Test Methods for Measuring Resistivity and Hall Coefficient and Determining Hall Mobility in Single-Crystal Semiconductors (Includes all amendments And changes 8/16/2017).
NORMA vydána dne 31.10.1986
Označení normy: ASTM F76-86(1996)e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 31.10.1986
Počet stran: 13
Přibližná hmotnost: 39 g (0.09 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
gallium arsenide, Hall coefficient, Hall data, Hall mobility, Hall resistivity, semiconductor, silicon, single crystal, van der Pauw