
Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits [Metric]
NORMA vydána dne 10.2.1997
Označení normy: ASTM F744M-97(2003)
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 10.2.1997
Počet stran: 6
Přibližná hmotnost: 18 g (0.04 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
DIC, digital integrated circuits, dose rate, ionizing radiation, radiation dose rate, threshold for upset, upset