Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits (Metric) (Withdrawn 2023)
NORMA vydána dne 1.5.2016
Označení normy: ASTM F744M-16
Poznámka: NEPLATNÁ
Datum vydání normy: 1.5.2016
Počet stran: 7
Přibližná hmotnost: 21 g (0.05 liber)
Země: Americká technická norma
Kategorie: Technické normy ASTM
Keywords:
DIC, digital integrated circuits, dose rate, ionizing radiation, radiation dose rate, threshold for upset, upset ,, ICS Number Code 31.200 (Integrated circuits. Microelectronics)